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    學術論文

    掃描振鏡--改善高精密的材料加工應用的全數字三軸激光掃描技術

    來源:激光制造商情2016-12-06 我要評論(0 )   

    后聚焦、三軸、全數字激光掃描系統具備大掃描范圍,聚焦光斑小,高速度和高精度的優勢,滿足下一代遠程激光加工應用的要求。作者

     后聚焦、三軸、全數字激光掃描系統具備大掃描范圍,聚焦光斑小,高速度和高精度的優勢,滿足下一代遠程激光加工應用的要求。

     

    作者: Mustafa Coskun, 李茂寶,黃登峰 / Cambridge Technology

     

     

    隨著大范圍,卷筒印刷和遠程材料加工等應用成幾何指數的增長,激光應用的要求也越來越嚴格,如激光切割、雕刻、表面處理和激光增材制造。各種類型的商用激光器應用于這些要求苛刻的高端應用中,優化了特殊材料的加工工藝。高端先進的光束傳輸系統研發,如基于檢流計原理發展起來的激光掃描振鏡也同樣針對于這些高端應用領域。

     

    Cambridge Technology (CTI)公司的3 軸Lightning-II(LII)掃描振鏡結合兩項專利技術應用于這些要求苛刻的應用:三軸后聚焦掃描技術和LII全數字掃描技術。由于具備更高的生產效率,更高精度和更大的掃描范圍,三軸LII掃描系統使得激光加工可由于于這些高端應用領域,如平板顯示行業,電子行業,太陽能行業,紡織行業,汽車行業和3D打印行業等。

     

    后聚焦掃描

     

    三軸掃描的工作原理通常是后聚焦掃描(如圖1),由于掃描鏡片位于聚焦鏡后面。利用后聚焦掃描技術,掃描系統能夠實現更大的掃描尺寸,更小的聚焦光斑和承載更大的激光功率。在這種結構中,激光光束經過動態擴束鏡和聚焦物鏡后重新成像在目標平面內。


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    掃描振鏡三軸激光掃描
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