深紫外光束強(qiáng)度分析儀
入射光束耦合到是C-Mount相機(jī)

• 可采集10-355 nm深紫外光
• 通光口徑12mm直徑，或者30 x 40 mm方形
• 與BeamVIew分析系統(tǒng)配合使用

這兩種型號(hào)深紫外光束分析儀采用專利的紫外到可見(jiàn)的熒光轉(zhuǎn)換機(jī)制耦合入射光束到合適的C-Mount相機(jī)。

相干公司的任何標(biāo)準(zhǔn)CCD相機(jī)都能與BeamView™分析儀配合使用。光束強(qiáng)度分析儀BIP-12F(產(chǎn)品號(hào)33-3468)，

結(jié)構(gòu)緊湊，擴(kuò)束倍數(shù)是固定的2:1，可接受的最大入射紫外光束直徑為12 mm，可接受的光譜范圍為10-355 nm。

BIP-12F的最前面有C-Mount螺紋，用來(lái)與33-3351紫外光束分離器 CUBE連接，光譜范圍190-355nm。

光束強(qiáng)度分析儀BIP-500Z（產(chǎn)品號(hào)33-3484）的采集器的擴(kuò)束倍數(shù)從6:1到 2:1可調(diào)整可接受的最大入射紫

外光束直徑為30 mm x 40 mm，可接受的光譜范圍為10-320 nm。