2.2 LED光色參數隨溫度變化曲線的測量

　　封裝LED的光色參數一般是在PN結為25±1℃的條件下給出的，而在實際工作中，結溫通常高于25℃，其光色性能會發生較大變化，這也給封裝LED的應用帶來困擾。因此，有必要監測LED的光色參數隨結溫變化的情況，如圖3所示。光色參數隨PN結溫度變化曲線的測量與K系數的測量方法類似。

　　而考察環境溫度（參考點溫度）對LED的光色參數的影響則更為直觀，對LED的應用更具指導意義。該測量可在下述的加速老練和壽命試驗箱中進行。

　　3　LED壽命測試

　　3.1  LED的加速老練和壽命測試  

　　與傳統照明產品不同，LED產品的壽命終了主要表現為光衰到一定程度，如衰減到50%或70%流明維持率，即L50或L70。現有的國際標準或國家標準中除了對壽命時間提出要求外，一般還要求燃點3000h時光通維持率應不低于92%，在燃點6000h時其光通維持率應不低于88%；也有標準根據6000h時的光通維持率對LED進行等級分類。美國標準LM-80-08主要針對封裝LED及LED模塊的光通維持壽命測量，它提出了在三個外殼溫度下測量LED的光通維持率，分別為：85ºC ，55ºC 和制造商選擇的溫度，在高溫下老練LED，主要是為了模擬被測LED的實際工作環境。老練測試時間為6000小時，可根據測試的數據進行外推計算獲取LED的壽命時間。如圖4所示為壽命推算曲線：

　　LED的壽命很長，額定條件下的老練壽命測試極為耗時。除了上述的根據初期光通維持率變化外推出L50或L70壽命時間的外推法之外，還可以使用加速老練壽命試驗的解決方案，即在不改變LED失效機理的前提下，加大應力條件來加快LED的衰減速度，從而減少壽命試驗的時間[2-3]。目前加速壽命試驗可分為增大測試電流和提高環境溫度兩種加速方法，以電流加速試驗為主。加速老練獲取的壽命值可根據阿侖尼斯（Arrhenius）模型計算出額定條件下LED的期望壽命。