我們曾對采用四個2400的測試系統的測試速度、小電流和小電壓測量精度，在一系列不同的測量時間間隔條件下（即不同的NPLC設定參數）進行過特征化測試。NPLC參數與測試時間間隔有如下關系式：

測試時間間隔（秒）= 1/60（NPLC參數）

圖1表示了2400型源表NPLC值從0.01到1.0時，在10-2A、10-3A、10-4A、10-5A和10-6A量程內的低電流測量性能。測試電流的大小接近每個量程的最大值，而每個測量點則代表100次測量的標準差。測試結果表明，對于每一個很短的積分(integration)時間，即 < 0.1 NPLC，在10-2A、10-3A和10-4A量程下，電流測量的標準差小于滿量程的0.005%，而在10-5A和10-6A量程下小于0.08%。在10-5A和10-6A量程下以最高測試速度測量時，±3σ的測試可重復性達到了< 2nA。圖2表示了一個以四個2400構建的測試系統的測試吞吐率的測量結果（該結果表示為NPLC設定值的函數）。

圖1. 2400源表的電流測量值的標準差與NPLC的關系曲線，其中的測試量程為10-2A、10-3A、10-4A、10-5A和10-6A。

當用于單個像素的開路、短路測量時，2400被配置成一個電流源，然后進行電壓測量。PC機通過電流源輸出值和電壓測量值計算出電阻。這一技術直接使用了2400進行電阻測量，從而縮短了與電阻測量有關的測量時間。測量精度接近或小于0.2%，而這一性能水平對于“合格或不合格”的測試是足夠了。它的測試吞吐率為漏電流測試速度的百分之幾。

圖2. 采用四個2400的OLED特征化系統的測試吞吐率

在對電纜、掃描卡和夾具的設計中使用保護，可大大降低漏電流，而且能夠為基于6517A型靜電計和7158、7058型掃描卡的系統，實現低電流的測量提供支持。加保護的信號通路縮短了與低電流測量所需的較長穩定時間，這進而又縮短了測試時間。即使采用了保護電路，6517A的測量速度仍比不上2400，所以它的吞吐率將會低一些。

可以采用四個6517A和低電流掃描卡組成的系統進行一次性能研究，但由于測試夾具和電纜走線對測試系統有很大的影響而使此項研究未能實現。這些部件通常是客戶提供的，而漏電流的大小可以有非常大的變化范圍，這就影響到了低電流性能和測試穩定時間。